高低溫應力篩選試驗箱箱體采用數控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。外箱采用SUS304＃霧面線條處理不銹鋼板，內箱采用進口不銹鋼SUS＃304鏡面鋼板。外形設計美觀，各零部件安裝位置合理，靜電噴涂顏色能滿足客戶實驗室整體配套要求。

試驗箱規格：

內尺寸：50×60×55㎝(W*D*H)

內容積：165L

外尺寸：115×158×184㎝(W*D*H)

溫度范圍：-70℃～+150℃(氣冷式)

濕度范圍：10%～98%RH

降溫速率：20℃～-70℃/85min(空載下)

升溫速率：20℃～+150℃/45min(空載下)

發熱負載：250W.(40℃,90%RH)

溫度穩定度：±0.2℃

濕度穩定度：±2%

試驗箱滿足標準：

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法；

2、GB/T2423.2-2001高溫試驗方法；

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N；

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；

9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗。

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式

12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

10、GB/T2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則

11、GB/T2423.22-2002溫度變化

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規則

13、EIA364-32熱沖擊（溫度循環）

高低溫應力篩選試驗箱應用范圍：又名高低溫濕熱試驗室、大型高低溫濕熱試驗箱、兩箱移動高低溫試驗箱，用于電子電器零組件、自動化零部件通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.

    為了仿真不同電子構件，在實際使用環境中遭遇的溫度條件，改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環境，縮短測試時間，降低測試費用，但是須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)。