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實(shí)用！開關(guān)電源分類及開關(guān)電源測試解決方案
良好的開關(guān)電源必須符合所有功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范（如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO，長城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規(guī)格）、電磁兼容能力（如FCC、CE等之傳導(dǎo)與幅射干擾）、可靠性（如老化壽命測試）、及其他之特定需求等。本篇文章納米軟件小編Namisoft將為大家詳細(xì)分享關(guān)于開關(guān)電源分類及開關(guān)電源測試解決方案。
一、開關(guān)電源包括下列之型式：
·AC-DC：如個(gè)人用、家用、辦公室用、工業(yè)用(電腦、周邊、充電器)
·DC-DC：如可攜帶式產(chǎn)品(手機(jī)、筆計(jì)本電腦、攝影機(jī)，通信交換機(jī)二次電源)
·DC-AC：如車用轉(zhuǎn)換器(12V～115/230V) 、通信交換機(jī)振鈴信號(hào)電源
·AC-AC：如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源
開關(guān)電源的設(shè)計(jì)、制造及品質(zhì)管理等測試需要精密的電子儀器設(shè)備來模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)之各項(xiàng)特性(亦即為各項(xiàng)規(guī)格)，并驗(yàn)證能否通過。開關(guān)電源有許多不同的組成結(jié)構(gòu)(單輸出、多輸出、及正負(fù)極性等)和輸出電壓、電流、功率之組合，因此需要具彈性多樣化的測試儀器才能符合眾多不同規(guī)格之需求。
二、電氣性能(Electrical Specifications)測試
當(dāng)驗(yàn)證電源供應(yīng)器的品質(zhì)時(shí)，下列為一般的功能性測試項(xiàng)目，詳細(xì)說明如下：
*功能(Functions)測試：
·輸出電壓調(diào)整(Hold-on Voltage Adjust)
·電源調(diào)整率(Line Regulation)
·負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation)
·綜合調(diào)整率(Conmine Regulation)
·輸出漣波及雜訊(Output Ripple & Noise, RARD)
·輸入功率及效率(Input Power, Efficiency)
·動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response)
·電源良好/失效(Power Good/Fail)時(shí)間
·起動(dòng)(Set-Up)及保持(Hold-Up)時(shí)間
*保護(hù)動(dòng)作(Protections)測試：
·過電壓保護(hù)(OVP, Over Voltage Protection)
·短路保護(hù)(Short)
·過電流保護(hù)(OCP, Over Current Protection)
·過功率保護(hù)(OPP, Over Power Protection)
*安全(Safety)規(guī)格測試：
·輸入電流、漏電電流等
·耐壓絕緣: 電源輸入對(duì)地，電源輸出對(duì)地；電路板線路須有安全間距。
·溫度抗燃：零組件需具備抗燃之安全規(guī)格，工作溫度須於安全規(guī)格內(nèi)。
·機(jī)殼接地：需於0.1歐姆以下，以避免漏電觸電之危險(xiǎn)。
·變壓輸出特性：開路、短路及最大伏安(VA)輸出
·異常測試：散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開關(guān)設(shè)定錯(cuò)誤
*電磁兼容(Electromagnetic Compliance)測試：
電源供應(yīng)器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度，電源供應(yīng)器需在以下三種負(fù)載狀況下測試：
每個(gè)輸出為空載、每個(gè)輸出為50%負(fù)載、每個(gè)輸出為100%負(fù)載。
·傳導(dǎo)干擾/免疫：經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫
·幅射干擾/免疫：經(jīng)由磁場之幅射性干擾/免疫
*可靠性(Reliability)測試：
老化壽命測試：高溫(約50-60度)及長時(shí)間(約8-24小時(shí))滿載測試。
*其他測試：
·ESD：Electrostatic Discharge靜電放電(人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起)在2-15KV之ESD脈波下，
待測物之每個(gè)表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測試，電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會(huì)產(chǎn)生突波(Glitch)
或中斷(Interrupt)，直接ESD接觸時(shí)不應(yīng)造成過激(Overshoot)或欠激(Undershoot)之超過穩(wěn)壓范圍的狀況、及過電壓保護(hù)(OVP)、過電流保護(hù)(OCP)等。另外，於ESD放電電壓在高達(dá)25KV下，應(yīng)不致造成元件故障(Failure)。
·EFT：Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經(jīng)由電源線或I/O線路之傳導(dǎo)性干擾(由供電或建筑物內(nèi)引起)。
·Surge：經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾(電燈之閃動(dòng)引起)。
·VD/I：Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷(電力分配系統(tǒng)之故障或失誤所引起，例如供電過載或空氣開關(guān)跳動(dòng)所引起)
·Inrush: 開機(jī)輸入沖擊電流，開關(guān)電源對(duì)供電系統(tǒng)的影響。
開關(guān)電源自動(dòng)測試系統(tǒng)詳細(xì)方案介紹：