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發布時間：2017-03-14 閱讀：473次
型號：800A
原理：X射線熒光光譜儀
生產廠商：skyray
天瑞800A鍍層測厚儀
性能特點：
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
鼠標可控制移動平臺，鼠標的位置就是被測點
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
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詳細配置信息：
硬件：主機壹臺，含下列主要部件：
(1) X光管 (2) Si-PIN電制冷半導體探測器
(3) 信號檢測電子電路 (4) 高精度二維移動平臺
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源
(7) 開放式樣品腔 (8）雙激光定位裝置
(9) 鉛玻璃屏蔽罩
軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
技術指標：
1.1 分析元素范圍：K-U
1.2 同時可分析多達5層鍍層
1.3 分析厚度檢出限高達0.005μm
1.4 定位精度：0.1mm
1.5 測量時間：5s-300s
1.6 計數率：0-8000cps
1.7 Z軸升降范圍：0-140mm
1.8 X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)
工作環境要求：
2.1 環境溫度要求：15℃-30℃
2.2 環境相對濕度：<70%
2.3 工作電源：交流220±5V
2.4 周圍不能有強電磁干擾。
天瑞800A鍍層測厚儀
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