EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B體積小、穩定性好、分析快速、運行成本低、操作維護方便、是控制產品質量的理想選擇。可測定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導體探測器，通過智能激發和檢測設計實現高靈敏度，用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法，適用于不同的應用場合。

應用領域

EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B應用于RoHS檢測分析。

采用的是X射線熒光分析原理，受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

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融合經驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的性能得到。

經驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。

基本參數法（FP法）：儀器根據實際檢測物質，通過對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質檢測。

 

進口硬件

1	美國進口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統
2	美國SPELLMAN高壓發生器
3	美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好
4	美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好
5	美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好