鍍層測厚儀EDX4500,天瑞儀器 特性：
檢出限低、重復精度高，以及測量適用性廣，因此特別適用于研究和開發使用
配備真空測量室和高性能硅漂移探測器，能夠實現測量，尤其是對輕元素的測試
通過可編程 X、Y 和 Z 軸進行自動測試
準直器和濾波器可切換，因此可適用于各種材料和測試條件
EDX4500應用：
EDX4500涂層厚度測量
原子序數從Na（11）開始的輕元素鍍層，可測量厚度低納米級
鋁鍍層和硅鍍層

 鍍層測厚儀EDX4500,天瑞儀器材料分析
測定寶石的真偽與原產地
 高分辨率痕量分析
江蘇天瑞儀器股份有限公司生產鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質譜聯用儀，電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。