首頁 >> 供求商機
儀器簡介：
廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。
X熒光光譜測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會發射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變為模擬電信號；經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進行處理；計算機的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm。
復雜零件鍍層測厚儀技術指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：100kg
復雜零件鍍層測厚儀性能介紹
設計科學，安全穩定
在設備整體設計上打破了傳統測厚儀設計模式，機體結構設計科學，更多的添加了人性化設計元素.
操作方便，工作效率高
采用軟硬件相配合的方式，通過機電聯動實現高效的運轉，提升厚度測量時效，畢竟這種設備主要被使用在鍍層生產企業，在使用中勢必要滿足生產需求。
精準度高，誤差率低
電鍍膜厚測量儀在使用中，不僅工作效率快，測量方便，另外測量數據同時也非常精準，這一點離不開設備所采用的X射線熒光檢測技術，利用X射線穿透被測物，通過射線穿透的時間確定被測物的厚度，這種測量方式可對大批量物體實現質量(厚度)檢測，保證被測物在檢測過程中不會有任何的損傷，測量誤差率非常低，正是因為這種性能，使得電鍍測量儀被廣泛使用在半導體生產行業;
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
8