首頁 >> 供求商機
1 分析元素范圍：S-U
2 金屬鍍層厚度檢測儀可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達0.02μm
4 多次測量重復性可達0.05μm
5 定位精度：0.5mm
5 測量時間：30s-300s
6 計數率：1000-8000cps
7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個范圍內，才能檢測。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測試的值是0.95-1.05um。
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片手動切換：不同樣品材質用不同的準直器
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
金屬鍍層厚度檢測儀新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
1 探測器
1.1. 電制冷半導體探測器分辨率：160±5電子伏特；
1.2. 對樣品特征X射線進行探測；把探測采集的信息,進一步放大。
2 光管
2.1. 使用壽命大于2萬小時；
2.2. 產生X射線激發樣品。
3 高、低壓電源
3.1. 管壓：5KV～50KV，管流為1000uA；
3.2. 為X光提供電源。
4 放大電路:
4.1.對采集來的信號進行數據處理,并將處理結果傳輸給計算機。
5 高清晰攝像頭
5.1試樣觀察；
6 移動平臺（自動）
3.6.1樣品微調移動平臺，保證樣品測試位置準確性。
7 樣品腔
8 準直器
9 標準樣品（歐盟標樣）：
11.1 0＃標樣、塑膠標樣、銀校正片各一片。
“快速、準確、到位"的服務
*短交貨時間
*快安裝
*短維修周期
*長保修期
*個性化服務
維護費用
1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
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