產(chǎn)品簡(jiǎn)介

微區(qū)x射線熒光光譜分析技術(shù)是對(duì)大尺寸不規(guī)則、不均勻樣品、甚至微小包裹體進(jìn)行高靈敏度、非破壞性的元素分析方法。

1. 矩形的真空室設(shè)計(jì)，樣品無需制備，可直接放入艙內(nèi)無損檢測(cè)；

2. 優(yōu)化的X射線光路，小光斑直徑降到20μm范圍內(nèi)，且提供高的束流；

3. 多種儀器配置：可以選擇增加了X射線管或探測(cè)器，以提高性能至更高的水平；

4. 通過使用真空模式（低噪音泵）和SLEW窗口，獲得輕質(zhì)元素的高靈敏度；

5. EasyLoad功能：方便樣本的裝入、取出，測(cè)量同時(shí)可以通過兩個(gè)影像系統(tǒng)查看樣品被測(cè)位置，自動(dòng)聚焦autofocus，樣品臺(tái)移動(dòng)和其它操作*由鼠標(biāo)控制。