目錄:美譜勒科技(上海)有限公司>>三豐量具>>影像測量儀>> QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀
產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,電氣 |
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QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
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