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A3-SR系列反射式膜厚測(cè)量?jī)x可用于測(cè)量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合。可用于測(cè)量2納米到3000微米的膜厚，測(cè)量精度達(dá)到0.1納米。 在折射率未知的情況下，還可用于同時(shí)對(duì)折射率和膜厚進(jìn)行測(cè)量。此外，還可用于精確測(cè)量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以內(nèi)。太陽(yáng)能鍍膜玻璃膜厚測(cè)量?jī)x

太陽(yáng)能鍍膜玻璃膜厚測(cè)量?jī)x

A3-SR-100產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)與配置詳細(xì)清單

A3-SR-100 反射式膜厚測(cè)量?jī)x可用于測(cè)量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏 ITO 等鍍膜厚度，PET 柔性 涂布的膠厚等厚度，LED 鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合。A3-SR-100 可用于測(cè)量 10 納米到 100 微米的膜厚，測(cè)量精度達(dá)到 0.1 納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR-100 還可用于同時(shí)對(duì)折射率和膜厚進(jìn)行測(cè)量。此外，A3-SR-100還可用于精確測(cè)量樣品 的顏色和反射率。樣品光斑在 1 毫米以內(nèi)。

 

A3-SR-100 進(jìn)行測(cè)量簡(jiǎn)單可靠，實(shí)際測(cè)量采樣時(shí)間低于 1 秒。配合我們的 Apris SpectraSys 軟 件進(jìn)行手動(dòng)測(cè)量，每次測(cè)量時(shí)間低于 1 秒。Apris SpectraSys 支持 20 層膜以內(nèi)的模型并可對(duì) 多層膜厚參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的材料數(shù)據(jù)庫(kù)，同時(shí)支持 函數(shù)型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(xué)（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型 （Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。 同時(shí)，客戶還可以通過(guò)軟件自帶數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)材料，菜單進(jìn)行管理并回溯檢查測(cè)量結(jié)果。

 

目標(biāo)應(yīng)用： 半導(dǎo)體 玻璃減反膜測(cè)量 手機(jī)面板 ITO 玻璃 太陽(yáng)能鍍膜玻璃 各種襯底上的各種膜厚，顏色測(cè)量 卷對(duì)卷柔性涂布 其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合

 

配手持式探頭,A3-SR-100可以用來(lái)一鍵式測(cè)量車燈罩表面硬化膜(包括過(guò)渡層)和背面的防霧層,精度達(dá)到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測(cè)量?jī)?nèi)飾件,外飾件的鋁陽(yáng)極氧化層和漆層的厚度,精度達(dá)到0.02um

 

在汽車行業(yè)的主要測(cè)試:鋁合金陽(yáng)極氧化層厚度，車燈燈罩表面硬化膜，過(guò)渡層、防霧層涂膜厚度。

 

國(guó)內(nèi)玻璃制造廠、內(nèi)飾件制造廠、

 

基本原理：

• 入射光在膜的上下表面發(fā)生多次反射
• 反射光的強(qiáng)度和薄膜折射率，基底(substrate)折射率及膜厚，波長(zhǎng)有關(guān)n  
• 在已知折射率的情況下，根據(jù)測(cè)量出的反射光強(qiáng)和波長(zhǎng)的函數(shù)，計(jì)算出膜厚n

產(chǎn)品型號(hào)和系統(tǒng)設(shè)置：

產(chǎn)品型號(hào)	A3-SR-100
產(chǎn)品尺寸	W270*D217*（H90+H140）
產(chǎn)品圖片
測(cè)試方式	可見VIS 反射(R)
波長(zhǎng)范圍	380nm - 1050 nm
光源	進(jìn)口 鎢鹵素?zé)?壽命10000小時(shí)
光路和傳感器	光纖式(FILBER,進(jìn)口 )+進(jìn)口光譜儀
入射角	0 度 (垂直入射)  (0 DEGREE)
參考光樣品	硅片
光斑大小	About 1 mm（標(biāo)配，可以根據(jù)用戶要求配置）
樣品大小	10 mm TO 300 mm (可以根據(jù)用戶要求配置)

 

光學(xué)測(cè)量技術(shù)參數(shù)（OPTICAL SPECIFICATION）

測(cè)試方式

反射

 

 

膜厚測(cè)量性能指標(biāo)（THICKNESS SPECIFICATION）：

產(chǎn)品型號(hào)	A3-SR-100
厚度測(cè)量1	15nm - 100 um
折射率1（厚度要求）	大于100nm
準(zhǔn)確性2	2 nm 或0. 5%
精度3	0.1 nm

¹表內(nèi)為典型數(shù)值, 實(shí)際上材料和待測(cè)結(jié)構(gòu)也會(huì)影響性能

2 使用硅片上的二氧化硅測(cè)量，實(shí)際上材料和待測(cè)結(jié)構(gòu)也會(huì)影響性能

3 使用硅片上的二氧化硅（500納米）測(cè)量30次得出的1階標(biāo)準(zhǔn)均方差,每次測(cè)量小于1秒.

 

軟件(SOFTWARE)：

檢測(cè)項(xiàng)目	標(biāo)準(zhǔn)型
層數(shù)	10 層
材料	表格型和函數(shù)型
粗糙度模型	有
反射/透射	反射型+透射型
材料庫(kù)	表格型+函數(shù)型
入射角	垂直入射
折射率測(cè)量	有

 

售后服務(wù)（GARANTEE AND ASERVICE）：

基本服務(wù)

1年免費(fèi)軟件升級(jí)

1年材料庫(kù)更新

1年免費(fèi)失效零件更換(燈泡，光纖，硅片除外)

 

附件

產(chǎn)品型號(hào)
光纖探頭(1m)
燈泡(10000小時(shí)）
硅片

太陽(yáng)能鍍膜玻璃膜厚測(cè)量?jī)x