1.   設備功能概述

a)   測試機具有高測試精度、高靈敏度、高可靠性、高安全性的特點，可實現SiC器件動態參數的精確測試。

b)   簡潔的人機交互界面（計算機）可以滿足測試人員對SiC器件測試條件的約束和測試完畢后相關參數的自動顯示。

c)   系統母線電壓閉環處理，自動調節為預期設定值。

d)   門極驅動電壓-10V～20V可調(正電壓與負電壓絕對值差值必須大于5V)。

e)   主控系統由開關速度更高的IC 器件構成，大大提升了對采樣的處理速度和測試精度。

f)   驅動信號采用光纖通訊，避免外來傳導或輻射干擾對測試精度的影響。

g)   系統配置DUT 測試保護罩，此保護罩的開合狀態與母線電壓進行互鎖，防止測試人員在母線帶電的情況下就對DUT進行操作的危險行為發生。

h)   配置系統急停按鈕，拍下此按鈕斷開系統主功率輸入并且母線放電；放電時間<1S。

i)   為了進一步減小母線回路寄生參數對測試結果的影響，功率回路特殊設計。

j)   負載接口預留阻性和感性接口，根據需要，客戶手動配置。