美國 IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀MINICMA™

Analyzer / electron spectrum MINICMA™ 分析器/電子譜minicma™

Characteristics

特點

Measured value:

測量值：

electron spectrum

電子譜

美國 IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀Description

描述

Performance Features

性能特點

Mounting on 2.75″ (70 mm) flange

安裝在2.75“（70毫米）的法蘭

Retractable with linear motion feedthrough

可伸縮的線性運動的饋通

General electron energy analysis including Auger and Photoelectron spectroscopy

包括俄歇和光電子能譜的一般電子能量分析

Double-pass optics with energy resolution better than 1.5

雙通光學(xué)與能量分辨率優(yōu)于1.5

Ideal for experiments not accessible by conventional bulky analyzers

理想的實驗不可訪問的常規(guī)笨重的分析儀

Combine with the RVL2000 LEED optics for a low-cost, high-performance LEED/Auger system

結(jié)合低成本的高性能光學(xué)rvl2000 LEED，LEED /鉆系統(tǒng)

電子能譜儀：對固體表面進(jìn)行微區(qū)成份分析及元素分布。可應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、冶金、地質(zhì)等部門。

電子能譜儀是利用光電效應(yīng)測出光電子的動能及其數(shù)量的關(guān)系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態(tài)、原子周圍的狀況及分子結(jié)構(gòu)，在表面化學(xué)分析、分子結(jié)構(gòu)、催化劑、新材料等研究領(lǐng)域中已得到應(yīng)用。

電子能譜儀主要用途：1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進(jìn)行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領(lǐng)域；5、進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。

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