EN 55022:2010 規(guī)定，輻射騷擾試驗(yàn)要在開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地進(jìn)行。開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地應(yīng)平坦、無(wú)架空電力線、附近無(wú)反射物，場(chǎng)地足夠大，以便能在規(guī)定距離處放置天線，并使天線、受測(cè)設(shè)備和反射物體之間有足夠的間隔。但是隨著社會(huì)的發(fā)展，要尋找一塊符合要求的理想場(chǎng)地十分困難，所以電波暗室作為開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)的可替換場(chǎng)地被廣泛應(yīng)用。標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，歸一化場(chǎng)地衰減（簡(jiǎn)稱(chēng)NSA）是證明電波暗室是否能獲得有效結(jié)果的關(guān)鍵指標(biāo)。電波暗室是為模擬開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地而建造的，電波暗室的歸一化場(chǎng)地衰減應(yīng)該與開(kāi)闊場(chǎng)地的差值小于4dB，以證明兩者的相似程度。
采用歸一化場(chǎng)地衰減試驗(yàn)方法驗(yàn)證試驗(yàn)桌對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響，如圖2所示。

在10m暗室無(wú)測(cè)試桌的情況下，用信號(hào)源分別通過(guò)雙錐天線（頻率30~250MHz）和對(duì)數(shù)天線（頻率250~1000MHz）發(fā)射電磁波。用接收機(jī)和另一組雙錐天線和對(duì)數(shù)天線測(cè)得一組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)。歸一化場(chǎng)地衰減的計(jì)算公式

A_N = V_T - V_R - AF_T - AF_R - ΔAF_TOT

式中：V_T —— 發(fā)射天線輸入電壓，dBμV； V_R —— 接收天線輸出電壓，dBμV； AF_T —— 發(fā)射天線的天線系數(shù)，dB； AF_R ——接收天線的天線系數(shù)，dB；

ΔAF_TOT —— 互阻抗修正系數(shù)，dB（僅適用 于用偶極子天線測(cè)量、且測(cè)量距離為 3 m 時(shí)的情況， 除此之外，ΔAF_TOT = 0）

表 1 雙錐天線和對(duì)數(shù)天線測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)

表 1 中，A_ideal 為標(biāo)準(zhǔn)的歸一化場(chǎng)地衰減值，偏差為 A_ideal 減去 A_N，且均小于 4 dB。

然后分別在采用泡沫桌和木桌情況下測(cè)得另兩組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)，如圖 3 和圖 4 所示。

圖 3 泡沫桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之一

圖4 木桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之一 

對(duì)三組場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如圖 5 所示。 

圖 5 場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)比較

現(xiàn)將同一信號(hào)源分別放置在泡沫桌（如圖 6 所示）和木桌（如圖 7 所示）上，接收天線在距離信號(hào)源 10 m 處分別測(cè)量輻射騷擾。

圖 6 泡沫桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之二

圖 7 木桌場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)測(cè)量之二

測(cè)試得到的數(shù)據(jù)如圖 8 所示。

  從圖 8 中可看出，在頻率范圍 700~900 MHz 輻射騷擾試驗(yàn)結(jié)果存在較大差異，其中在 800 MHz 處差異達(dá)到了 5.3 dB，而在 GB/T 6113.402-2006《無(wú)線 電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范第 4-2 部分：不確定度、統(tǒng)計(jì)學(xué)和限值建模測(cè)量設(shè)備和設(shè)施的不確定度》中提到，輻射騷擾測(cè)量的不確定度最大允許值為 5.2 dB。可見(jiàn)不同材質(zhì)試驗(yàn)桌造成的輻射騷擾差異超出了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的不確定度