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日本凱特Kett簡易型大米外觀品質檢測儀TX-200

該儀器可以使光線從大米的背面穿過并放大以進行觀察。
弄清糙米和米粉的形狀和顏色等特征
這是可以識別的米粒熒光鏡。 經常被忽略的封面
可以清楚地識別出有害谷物，未成熟谷物和粉狀谷物。

 糙米的觀察例
可以識別損壞的谷物（例如身體裂痕），不成熟的谷物（例如乳白色和心白）以及龜龜引起的彩色顆粒。

觀察五谷雜糧的混合物
如果谷物有裂紋，
裂紋表面的陰影
清晰可見
是。 （真實大小）

觀察是否包含未成熟的谷物
滿足度低的部分是
透光困難
黑色的
我能看到它。 （真實大小）

 

精米的觀察實例
可以識別殘留的細菌，麩皮層的剝落程度，損壞的顆粒（例如形狀和損傷）以及粉狀顆粒（例如腹部白和心白）。

 胚芽和麩皮層的觀察
胚芽和麩皮層殘留
存在與胚胎部分不同
透射光
由于股權而微黑
好像
我會。 （真實大小）

觀察粉狀顆粒的污染
粉末部分是反射光
有時候看起來很白
但是透射光
有點黑
我能看到它。 （真實大小）

主要規格

適用樣品	糙米，糙米
光源	熒光燈4W日光色（ZLP-701）
工作溫度極限	10-40℃
儲存溫度范圍	0-40℃
電源供應	電池1.5V（AA堿性）x 4或AC100V（50 / 60Hz）輸 出DC6V 0.5A
電池壽命	連續約5個小時，它會根據電池的存放條件和工作溫 度而略有變化。
尺寸/質量	162（寬）x 134（深）x 80（高）mm，0.47公斤
配件	小冊子“大米博物館大米質量評估文本” *該小冊子附 在產品上。此外，只有小冊子可供選擇。訂購時請注明。