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| 參考價 | ￥750000-￥1200000 | /臺 |
參考價：￥750000 ~ ￥1200000
更新時間：2025-04-27 15:56:55瀏覽次數(shù)：3173評價
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
一、概述
SE-m 是一款針對半導體行業(yè)定制的微區(qū)圖形結構測量的專用型光譜橢偏儀，其采用 1 超小微光斑探測測量技術， 2 定制超快測量速度等技術。可應用透明各類襯底上的減反膜、導電膜等薄膜的n/k/d測量，適用于微區(qū)圖形的各種光學參數(shù)解析。
二、特色功能
■ 可定制光斑尺寸，最小可達30um；
■ 超快測量，單次測量時間小于0.5秒 ；
■ 系列配置靈活，支持功能定制設計；
■ 結構緊湊，更適應在線集成測量。
三、測量實例
微區(qū)圖形結構測量
四、應用場景
應用于光學常數(shù)測量，適用于各類光學薄膜等鍍膜檢測應用。
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