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低阻雙電四探針測試儀適用范圍：
四探針法測試的 導電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測量的材料.
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
低阻雙電四探針測試儀BEST-300D
概述：
四探針法測試低阻材料方阻及電阻率，可以測試到1uΩ方阻值，采用AD芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動數(shù)據(jù)測量，系數(shù)補償，
參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量. 提供中文或英文語言版本.
低阻雙電四探針測試儀
參數(shù)資料：
規(guī)格型號 | BEST-300C | BEST-300D |
1.方塊電阻范圍 | 1×10-5～2×105Ω
| 10-6～2×102Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 1×10-6～2×106Ω.cm | 10-7～2×103Ω-cm |
3.測試電流范圍 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | |
4.電流精度 | ±0.1% | |
5.電阻精度 | ≤0.3% | |
6.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 | |
7.測試方式 | 組合雙電測試方法 | |
8.工作電源working power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W | |
9.誤差errors | ≤4%（標準樣片結果） | |
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻 | |
11.測試探頭test probe | 探針間距選購： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針 | |