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參考價	面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測試設(shè)備

光催化專用太陽光模擬器高準直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測試設(shè)備

發(fā)光效率測量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

LED太陽光模擬器 AAA+級雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測試儀太陽能電池組件測試儀太陽能電池測試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測試太陽能電池載流子測試光纖太陽光模擬器光譜響應/量子效率量測儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) AAA級太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測試設(shè)備載流子擴散長度測試系統(tǒng)
薄膜性能測試設(shè)備

薄膜應力測試儀薄膜熱應力測量系統(tǒng) 薄膜生長速率測試儀薄膜/涂層殘余應力儀電池電極應力測試系統(tǒng) 薄膜應力測量系統(tǒng) 原位薄膜應力測試儀薄膜應力測試系統(tǒng) kSA BandiT實時襯底溫度測試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應力測量系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡

電化學反應共聚焦系統(tǒng) 三維光學共聚焦顯微鏡三維表面輪廓儀
激光光束質(zhì)量分析儀

激光質(zhì)量分析儀 UV光束分析儀 Shack-Hartmann波前傳感器 EUV/XUV波前傳感器波前曲率傳感器光熱弱吸收測量儀高功率激光材料測試儀大光斑激光光束分析儀高功率激光光束分析儀激光光束分析儀
納米材料制備設(shè)備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對卷涂布系統(tǒng) 涂布機
微納米加工設(shè)備

桌面型激光直寫系統(tǒng) 臺式無掩膜光刻系統(tǒng) 納米壓印系統(tǒng)
介電/壓電材料測試設(shè)備

電卡效應測試儀高溫介電測試系統(tǒng) 熱釋電測試儀熱刺激電流測試儀精密壓電系數(shù)測試儀高分子壓電系數(shù)測試儀高場寬頻譜介電測量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測量系統(tǒng) 電容充放電測試儀
太陽能電池測試設(shè)備

瞬態(tài)光電壓測試瞬態(tài)光電流測試太陽能電池老化測試太陽能電池老化壽命測試儀鈣鈦礦太陽能電池測試儀太陽能電池單體測試儀太陽能電池測試夾具太陽能電池IV測試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
其他相關(guān)設(shè)備

產(chǎn)品簡介

測量模式	交流	產(chǎn)地類別	進口
價格區(qū)間	面議	應用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池

OLED發(fā)光效率測量系統(tǒng),我公司推出OLED光譜性能測試系統(tǒng)，OLED發(fā)射光譜測量系統(tǒng)，OLED光譜分析儀，OLED光電性能測試系統(tǒng)（IVL曲線，外量子效率EQE），OLED載流子遷移率測量系統(tǒng)、光電性能評估系統(tǒng)以及軟件模擬研發(fā)系統(tǒng)，為廣大科研工作者和研發(fā)機構(gòu)提供了有效的測試工具。

詳細介紹

OLED發(fā)光效率測量系統(tǒng)

產(chǎn)品名稱：OLED/LED電致發(fā)光/光致發(fā)光測量系統(tǒng)，EL/PL測量系統(tǒng)，多角度光譜測量系統(tǒng)，發(fā)光效率測量系統(tǒng)，發(fā)光光譜測量系統(tǒng)，外量子效率測量系統(tǒng)。

Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同時也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關(guān)系，計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。

技術(shù)優(yōu)勢

• 角度依賴的PL光致發(fā)光譜分析

• 角度依賴的EL電致發(fā)光譜分析

• 角度依賴的發(fā)光分析

• 兼容頂發(fā)光和底發(fā)光結(jié)構(gòu)的OLED的及其他發(fā)光器件

• p- and s-偏振態(tài)檢測

• 偏振角度連續(xù)掃描

• 發(fā)光層中發(fā)光偶極子檢測及偶極子趨向分析

• 兼容各種幾何尺寸樣品

• 樣品便捷對準

• 可與Setfos結(jié)合，對發(fā)光層進行分析

測量功能

• 顏色效率分析

• 可視角分析

• 量子效率EQE

• 流明效率lm/W

• 發(fā)光效率Cd/A

• 發(fā)光區(qū)域擬合

• 發(fā)光趨向分析

• 發(fā)光特性角度依賴分析

• 光譜和顏色VS. 發(fā)射角

• 發(fā)光層中偏振態(tài)分析

• 散射特性分析

• 工作點

• 效能 (cd/A)

• CIE 坐標

• 色溫和顯色指數(shù)等分析

• 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量

• 光譜輻照度/強度

• 輻射強度

• 亮度

技術(shù)規(guī)格

Photoluminescence and Electroluminescence
角度范圍	-90° to +90°, top and bottom emission
角度分辨率	< 0.5°
光譜范圍	360 to 1100 nm
光譜分辨率	2.5 nm *
信噪比	300:1
電壓范圍	± 20 V
電流范圍	± 120 mA
*小分辨電流	< 100 pA
伺服偏振器	0 to 360° (continuous)
樣品臺尺寸	40 x 40 mm2
PL 激發(fā)光	275 nm to 405 nm(默認365nm)
PL 激發(fā)光光斑	5 x 3 mm2
設(shè)備重量	18 kg
設(shè)備尺寸	50 x 29 x 24 cm3