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| 測量模式 | 交流 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 環保,化工,生物產業,能源,電子/電池 |
產品簡介
詳細介紹
OLED發光效率測量系統
產品名稱：OLED/LED電致發光/光致發光測量系統，EL/PL測量系統，多角度光譜測量系統，發光效率測量系統，發光光譜測量系統，外量子效率測量系統。
Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發光器件的發射光譜特性和極化角，同時也可測量器件的s和p偏振光譜、發射光譜與角度的關系，計算出發射層中激子的發光角度及位置分布。
技術優勢
• 角度依賴的PL光致發光譜分析
• 角度依賴的EL電致發光譜分析
• 角度依賴的發光分析
• 兼容頂發光和底發光結構的OLED的及其他發光器件
• p- and s-偏振態檢測
• 偏振角度連續掃描
• 發光層中發光偶極子檢測及偶極子趨向分析
• 兼容各種幾何尺寸樣品
• 樣品便捷對準
• 可與Setfos結合，對發光層進行分析
測量功能
• 顏色效率分析
• 可視角分析
• 量子效率EQE
• 流明效率lm/W
• 發光效率Cd/A
• 發光區域擬合
• 發光趨向分析
• 發光特性角度依賴分析
• 光譜和顏色VS. 發射角
• 發光層中偏振態分析
• 散射特性分析
• 工作點
• 效能 (cd/A)
• CIE 坐標
• 色溫和顯色指數等分析
• 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量
• 光譜輻照度/強度
• 輻射強度
• 亮度
技術規格
Photoluminescence and Electroluminescence | |
角度范圍 | -90° to +90°, top and bottom emission |
角度分辨率 | < 0.5° |
光譜范圍 | 360 to 1100 nm |
光譜分辨率 | 2.5 nm * |
信噪比 | 300:1 |
電壓范圍 | ± 20 V |
電流范圍 | ± 120 mA |
*小分辨電流 | < 100 pA |
伺服偏振器 | 0 to 360° (continuous) |
樣品臺尺寸 | 40 x 40 mm2 |
PL 激發光 | 275 nm to 405 nm(默認365nm) |
PL 激發光光斑 | 5 x 3 mm2 |
設備重量 | 18 kg |
設備尺寸 | 50 x 29 x 24 cm3 |
測試模式
測量實例
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