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Capability:

• QSS lifetime calibration -準穩態少子壽命測試

• standard PL configuration-光致發光掃描

• Combined QSS and PL-準穩態-光致發光結合

• J_o mapping-發射級飽和電壓掃描

• lmplied V_oc mapping-贗電壓掃描

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