WPA-200系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇，回收WPA-200應力儀二手相位差軸方向檢測儀

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產品簡介

WPA200相位差檢測儀系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發的產品，雙折射測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為光學測量產品。

該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬用機器，用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

WPA-200相位差檢測儀特點

操作簡單，測量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。

具有多種分析功能和測量結果的比較。

維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

WPA-200相位差檢測儀主要應用

光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）

有機材料（球晶、FishEve）

參數指標

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回收WPA-200應力儀 二手相位差軸方向檢測儀

產品簡介

WPA200相位差檢測儀系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發的產品，雙折射測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為光學測量產品。

該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬用機器，用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

WPA-200相位差檢測儀特點

操作簡單，測量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。

具有多種分析功能和測量結果的比較。

維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

WPA-200相位差檢測儀主要應用

光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）

有機材料（球晶、FishEve）

參數指標

型號

WPA200

WPA-200-L

測量范圍

0~30OOnm

重復性

<1.0nm

像素數

384×288（≒11萬）pixels

測量波長

523nm,543nm,575nm

尺寸

270×340×560 mm

430×490×910 mm

觀測到的zui大面積

24×32 mm ～ 100×133mm

33×44 mm ～ 240×320mm

重量

13kg

23kg

數據接口

GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制）

電壓電流

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

WPA-View

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