SE-VE光譜橢偏儀 參考價：面議
產(chǎn)品簡介：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。高性價比光學(xué)橢偏測量解決方案，緊...
SE-VM光譜橢偏儀 參考價：面議
產(chǎn)品簡介：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速...
ME-L全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀 參考價：面議
ME-L是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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