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ANALECT_FT_NIR 紅外光譜儀
堅固，可靠，臺式或機架安裝FTIR/FT-NIR過程分析儀
ANALECT_FT_NIR 紅外光譜儀實時監測的物理性質和化學成分的液體和固體都從一個儀器,臺式或機架安裝選項 ,多功能的在線和現場過程監控和最終產品檢測。
SpectraRTS
提供靈活的系統設置和控制，廣泛的診斷，易于使用的腳本和強大的DCS通信。交互式通信允許在改變混合類型時自動切換模型集，從而大限度地提高混合測量效率。
分析儀的性能
•干涉儀耳堂IV密封模塊折射掃描設計。帶有固定角立方鏡的
精密交叉滾子軸承。
•光譜范圍:擴展中紅外7400至450 cm-1;近紅外12000 ~ 1200 cm-1。
•分辨率:鍵盤可選擇到1.5 cm-1(未經修飾);2 cm-1(已修訂)。掃描速度:自動優化的檢測器類型或軟件可選擇的特定應用。自適應數字伺服驅動器采用激光正交作為正位置參考。
•修正功能:選擇14個鍵盤可選。標準功能。
•紅外源:內部，風冷，高效反射球。
•信號轉換:計算機可選擇的增益，高低通濾波器，延遲補 償。高精度,
24位Sigma Delta ADC。
•采樣光學:內部聚焦光束，外部準直光束。
•游標讀數:連續，cm-1或納米橫坐標，%T或吸光度單位。
•探測器:標準DTGS熱釋電。
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