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產品簡介
ST 系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質針桿經過精密電化學加工成為不同的針尖直徑，長度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探 針應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。ST 系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇 鍍鎳則型號后面增加“NP"。
詳細介紹
T 系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質針桿經過精密電化學加工成為不同的針尖直徑，長度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探 針應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。ST 系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇 鍍鎳則型號后面增加“NP"。
一般配合探針臺一起使用，用于測試相關半導體行業樣品的電學測試。比如IV/CV等。
根據其它使用場景，比如二維材料轉移系統，機械探針臂等都有運用。
詳情可以隨時聯系我們。
主要參數：
針桿長度38mm，直徑0.5mm；可測電流范圍1fA~1A
