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UOTEST DCH-196 高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在高低溫環境下給樣品加載電學信號的設備。可以在真空的環境中提供 -196 度的極低溫度，在特殊材料，半導體器件等方向具有廣泛運用。
極低溫測試:
因為晶圓在低溫大氣環境測試時，空氣中的水汽會凝結在晶圓上，會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。
產品簡介
詳細介紹
產品簡介：
UOTEST DCH-196 高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在高低溫環境下給樣品加載電學信號的設備。可以在真空的環境中提供 -196 度的極低溫度，在特殊材料，半導體器件等方向具有廣泛運用。
產品優勢：
? 防輻射屏和熱沉設計
? 液氮自動控制系統，液氮流量模塊和溫度控制模塊一起聯動共 同控制溫度
? 降溫速度快，常溫降至 77k<25mins，大大提高測試效率
極低溫測試:
因為晶圓在低溫大氣環境測試時，空氣中的水汽會凝結在晶圓上，會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。
詳細參數：
