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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
菲希爾Fischer X射線測厚儀
德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL特點
菲希爾X射線測厚儀堅固耐用的鍍層厚度測量設備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作
菲希爾X射線測厚儀固定光圈和固定濾光鏡
菲希爾X射線測厚儀用于1mm起大小的測量點
底部C型開槽的大容量測量艙
Fischer X射線測厚儀可編程的臺式設備，用于自動測量
Fischer X射線測厚儀標準X射線管，比例計數器
德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL典型應用領域
Fischer X射線測厚儀測量大規模生產的電鍍零件
Fischerscope x-ray防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻
Fischerscope x-ray電鍍工業中電鍍液的分析
黃金、珠寶和鐘表工業
德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL應用實例：
XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。
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