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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
DUALSCOPE MP0涂層測厚儀采用廣受認可的Fischer探頭技術，是小巧并能zuida程度滿足您測量需要的儀器。它測量精度高、界面友好且結實耐用。對不復雜工件的現場測量尤為理想。內置探頭，采用磁感應及電渦流方法，可快速無損地測量涂鍍層厚度。DUALSCOPE MP0自動識別基材例如鐵或鋁并選擇適合的測量方法。可顯示zui重要的統計參數。由于有著出色的重復精度及統一標準的校準功能，使得這款儀器在同級別產品中非常。
菲希爾測厚儀Fischer MP0
DUALSCOPE MP0菲希爾涂層測厚儀優勢：
• 菲希爾測厚儀DUALSCOPE MP0可在的金屬（鋼鐵或非鐵磁性金屬）基材上測量
• 儀器自動識別鍍層下的基材材料并選擇相應的測量方法
• 出色的重復精度
• 受基材透磁率、電導率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響小
• 享有zhuanli的電導率補償技術（電渦流方法）
• 足夠小巧，甚至可以在比較難接觸到的區域進行可靠的測量
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