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鍍鎳層測厚儀菲希爾，菲希爾庫倫法測厚儀，COULOSCOPE CMS2 STEP，菲希爾代理。

couloscope cms2 step測厚儀，這個系列儀器根據DIN EN ISO 2177標準的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下...

菲希爾X射線測厚儀X-RAY，在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領域，FISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。

菲希爾涂層測厚儀Fischer FMP20，

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菲希爾X射線測厚儀Fischer鍍金層測厚，能量色散X射線熒光光譜儀，自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量，采用ISO 3497和ASTM B 568標準；

菲希爾納米壓痕儀HM2000S，德國菲希爾Fischerscoper HM2000S是一款性價比高入門級納米壓痕儀，適合在微納米級測量覆蓋層的硬度，如覆蓋層厚度...

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銅層鍍鉻測厚儀，高性能X射線熒光測量儀，配有*的硅漂移探測(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

Fischer菲希爾X熒光射線測厚儀，通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復雜的情況下，也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料分析；符合DIN ISO 34...

COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾，在一定的厚度以上，X射線熒光對鍍層的無損測量達到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發揮作用的...

菲希爾鍍層測厚儀X射線儀器，電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護

多層鍍層厚度測量儀，FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設計的入門級、耐用型測量儀。

菲希爾鍍層測厚儀Fischerscope X-RAY，根據DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

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菲希爾X射線測厚儀Fischer廠家代理，FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列、設計緊湊、應用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。常用于無損測量細...

菲希爾涂層測厚儀FMP10，德國菲希爾公司生產的價格便宜的DELTASCOPE FMP10涂層測厚儀適合于使用在不需要全部測量數據存儲，評估和輸出，但又需要在各...

菲希爾鐵素體儀FERITSCOPE DMP30，掃描：掃描模式允許在探頭在表面上移動時對測量讀數進行定義的采集。您可以設置儀表中單個讀數的數量和測量采集的時間間...