菲希爾X射線測厚儀XAN220/222 

FISCHERSCOPE XAN 222 X射線熒光檢測儀特點

• 為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計

• 配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析

• 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析

• 測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222典型應用領域

• 在珠寶和鐘表行業中的黃金和貴重金屬分析

• 牙科行業中的材料合金分析

X射線測厚儀原理

XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。