菲希爾XDL220

FISCHERSCOPE XDL型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

FISCHERSCOPE XDL系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

?測量薄鍍層，例如裝飾鉻

?測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

?全自動測量，如測量印刷線路板

?分析電鍍?nèi)芤?/p>

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀

設(shè)計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL220設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實際應(yīng)用的需求。