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FISCHER XDL210
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 210菲希爾X射線測厚儀特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有：
• 測量大規模生產的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
• 全自動測量，如測量印刷線路板
• 分析電鍍溶液
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