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菲希爾鍍層測厚儀
菲希爾X射線測厚儀特點：
1、測量極微小部件結構，如印制線路板、接插件或引線框架等；
2、分析超薄鍍層，如小于 0.1 μm的Au和Pd鍍層；
3、測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層；
4、分析復雜的多鍍層系統；
5、全自動測量，如在質量控制領域。
適用于無損分析和測量極微小部件機構上鍍層的厚度，即使是復雜的鍍層結構，也同樣應付自如。
項目 | XDV-u/XDV-u-PCB |
品牌 | 菲希爾 |
可分析鍍層數 | 可同時測量23層鍍層，同時分析24種元素,進行厚度測量和材料分析，從Al到U |
計算方法 | 采用基本參數法（內置純元素頻譜庫），沒有標準片也可以測量 |
底材影響 | 無損測量鍍層時不受底材影響 |
特點 | 能夠顯示mq值（測量品質顯示） |
放大倍數 | 最高達到1080X （光學變焦: 30X，90X，270X；數字變焦: 1X，2X，3X，4X） |
可用樣品平臺面積 | 寬x深：370mm x 320mm，開槽式設計，可測量大面積線路板 |
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