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| 鎢鋼探針·針尖直徑（μm） | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 | 鎢鋼探針·針長（mm） | 38 |
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| 鎢鋼鍍金探針·針尖直徑（μm） | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 | 鎢鋼鍍金探針·針長（mm） | 38 |
| 鎢鋼鍍金軟針·針尖直徑（μm） | 5/10/30/50/125 | 鎢鋼鍍金軟針·針長（mm） | 51 |
| 鎢鋼角度探針·針尖直徑（μm） | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 | 鎢鋼角度探針·針長（mm） | 32 |
| 鈹銅探針·針尖直徑（μm） | 3/10/30 | 鈹銅探針·針長（mm） | 38 |
| 可測電流范圍 | 1fA-1A |
產品簡介
詳細介紹
產品介紹
測試探針作為探針臺的核心部件之一，主要用途是接觸連接待測件電極，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從不同應用場景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等，被廣泛應用于半導體及光電等行業(yè)的測試。
技術優(yōu)勢
.進口鎢鋼探針，優(yōu)異的導電性能；
.探測線細而柔韌，最大限度減少對集成電路的損壞;
.我司特殊的鍍金工藝，保證針體機械屬性的同時，進一步優(yōu)化其導電性能；
. 可測電流范圍：1fA-1A；
.多款針尖直徑可選，滿足不同應用需求;
產品圖片（盒裝）
常規(guī)選型
應用領域
測試探針，作為探針臺附件之一，適用于R/F測量，I/O點測量，直流DC測試，晶圓測試，電阻電壓測試，太陽能電池測試，光電流測試，半導體器件分析測試等。