半導體制造是一個多方面、復雜的過程，包含許多步驟，其中精確度至關重要，而創新則是驅動力。蝕刻是生產過程中的核心工藝階段，因為在定義現代電子設備的復雜圖案和結構方面，蝕刻階段至關重要。
半導體制造中的蝕刻工藝
蝕刻是半導體制造中使用的一種方法，用于有選擇性地去除基板(如硅晶圓)上的材料層，以創建圖案和結構。該過程在蝕刻室中進行;在這種受控環境中，半導體晶圓暴露于蝕刻劑中(蝕刻劑是用于有選擇性地去除晶圓表面材料的化學物質或等離子體)。蝕刻室旨在保持精確的溫度、壓力和化學濃度，有助于確保在整個晶圓上進行均勻而準確的蝕刻。
蝕刻室需要使用特殊涂層，以保護蝕刻室部件免受腐蝕性蝕刻劑的損壞，并提高工藝性能。釔具有出色的耐化學性、熱穩定性以及與半導體材料的兼容性，因此非常適合這些應用。這些特性有助于確保蝕刻室的壽命，也有助于穩定可靠地制造半導體器件。
對釔厚度的控制是一項關鍵性挑戰，需要格外細心地關注和先進的解決方案。
在半導體制造中監測釔厚度的4個理由
在半導體制造的蝕刻工藝中，對釔涂層厚度的監測非常重要，幾點原因如下：
1. 工業控制
釔涂層的厚度直接影響蝕刻室的性能。通過監測釔涂層厚度，工程師可以確認蝕刻室中的操作是否符合規定的參數，從而可優化蝕刻工藝并保持穩定的產品質量。
2. 均勻性
要獲得均勻的蝕刻結果，確認蝕刻室壁上釔涂層厚度的一致性至關重要。
3. 防止涂層退化
隨著時間的推移，釔涂層會因化學侵蝕或熱循環等因素而退化。 對釔涂層厚度的監測可以及早發現涂層變薄或退化的情況，從而可在涂層受損之前進行維護。這有助于延長蝕刻室的使用壽命，并大幅減少停機時間。
4. 節省成本
通過定期監測釔涂層的厚度，可以進行主動的維護和翻新，而不是被動地進行修理或更換。這樣可以避免意外停機，延長蝕刻室部件的使用壽命，從而節省了成本。
便攜式XRF技術可精確監測釔涂層的厚度
一種監測蝕刻室釔涂層厚度的簡便方法是采用便攜式X射線熒光(XRF)技術。
便攜式XRF分析儀使用X射線對材料進行現場分析，而不會損壞樣品。這種無損檢測方法非常適合半導體生產中的質量控制，因為分析儀可以測量釔涂層的厚度，而不會損害蝕刻室或半導體樣品的完整性。
而且，操作過程也很簡單。分析儀發射X射線，照射在被測物體上，使其發出熒光。分析儀探測到返回的X射線，并利用得到的數據計算釔(Y)涂層的厚度。這樣，在幾秒鐘內就可以獲得厚度結果。
技術人員正在使用Vanta手持式XRF分析儀測量釔涂層的厚度
Vanta手持式XRF分析儀屏幕上顯示的釔(Y)涂層厚度結果
憑借先進的算法和校準程序，便攜式XRF分析儀只需幾秒鐘就能精確測量釔涂層的厚度。
Vanta手持式XRF分析儀測量釔涂層厚度的結果與實驗室測量結果非常接近。
便攜式XRF分析儀也是一種多功能設備，可以測量各種材料和涂層上的釔層厚度。分析儀設計緊湊，使用方便，是現場測量的理想工具，有助于技術人員輕松高效地進行質量控制檢查。
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