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深圳市京都玉崎電子有限公司
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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,石油,能源,電子/電池,電氣 |
|---|---|---|---|
| 訂貨號 | 137**1702**3088王生 |
透明或半透明薄膜（氧化膜、氮化膜、抗蝕劑、ITO等）的膜厚、折射率、消光系數的測量
產品介紹
ULVAC愛發科 精品 手動 高速光譜 橢偏儀
ULVAC愛發科 精品 手動 高速光譜 橢偏儀
UNECS系列是一款光譜橢偏儀，可高速、高精度測量薄膜的厚度和折射率。采用測量方法，實現高速測量和緊湊化。我們提供廣泛的產品陣容，以適應不同的應用，包括便攜式類型、自動平臺類型和與真空環境兼容的內置類型。
UNECS-1500M配備了易于操作的手動R-θ平臺，兼容φ150mm，使測量定位變得容易。
用途
透明或半透明薄膜（氧化膜、氮化膜、抗蝕劑、ITO等）的膜厚、折射率、消光系數的測量
特征
高速測量：
采用快照方式，實現了最高速度20ms的高速測量。
兼容可見光譜：
波長范圍可選擇標準型（530nm~750nm）和可見光譜型（380nm~760nm）。
緊湊的傳感器單元：
光發射/接收傳感器僅由光學元件組成，沒有旋轉機構，并且非常輕便和緊湊，并且不需要定期維護。
豐富的產品陣容：
我們擁有可適應各種應用的產品陣容，包括便攜式類型、手動/自動平臺類型、大型基板類型以及與大氣/真空環境兼容的內置類型。
規格
| 波長范圍 | 530~750nm、380~760nm（任選其一） | |
| 光斑直徑 | φ1mm、φ0.3mm（任選其一） | |
| 入射角度 | 70o固定 | |
| 膜厚再現性 | 1σ = 0.1nm | |
| 膜厚范圍 | 1nm?2μｍ | |
| 測量時間 | 受光：20ms ? 3000ms 演算：300ms | |
| 階段 | φ150mm手動R-θ平臺 | |
| 控制電腦 | 筆記本型（帶操作/分析軟件） | |
| 機器構成 | 測量主體（帶手動載物臺、控制箱）、 光源裝置、操作電腦（筆記本電腦型）、使用說明書（CD） | |
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