目錄:憶璽智能科技（杭州）有限公司>>光電實(shí)驗(yàn)實(shí)訓(xùn)>>光電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)>> ROE-SA04 # 紅外熱像與熱輻射測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)
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更新時(shí)間：2025-05-28 07:32:21瀏覽次數(shù)：205評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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ROE-SA04 # 紅外熱像與熱輻射測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)簡介
紅外熱像技術(shù)已經(jīng)在電力系統(tǒng)、土木工程、汽車、冶金、石化、醫(yī)療等諸多行業(yè)得到廣泛應(yīng)用。本實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)緊扣教學(xué)核心知識(shí)點(diǎn)，并結(jié)合工程實(shí)際應(yīng)用，通過光電轉(zhuǎn)換、信號(hào)處理等手段，檢測(cè)目標(biāo)物體輻射與溫度分部之間的對(duì)應(yīng)聯(lián)系，并將之轉(zhuǎn)換為圖像信息，從而直觀的實(shí)現(xiàn)目標(biāo)物輻射測(cè)量。旨在讓學(xué)生理解并掌握熱輻射的基本定律，以及紅外成像的工作原理和測(cè)量方法，是光電相關(guān)專業(yè)理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。
ROE-SA04 # 紅外熱像與熱輻射測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
面陣可見與面陣紅外探測(cè)對(duì)比實(shí)驗(yàn)；
紅外熱現(xiàn)象測(cè)試實(shí)驗(yàn)；
電路外部故障檢測(cè)實(shí)驗(yàn)；
測(cè)試阻礙物影響實(shí)驗(yàn)；
發(fā)射率對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響實(shí)驗(yàn)；
距離對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響實(shí)驗(yàn)；
角度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響；
黑體發(fā)射率測(cè)量；
溫度對(duì)黑體發(fā)射率的影響。
實(shí)驗(yàn)知識(shí)點(diǎn)
普朗克輻射定律、紅外熱像儀、黑體輻射、可見光、紅外光、發(fā)射率、溫度分辨率、紅外探測(cè)器、光電轉(zhuǎn)換、故障排除。
實(shí)驗(yàn)效果圖
實(shí)驗(yàn)原理圖
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