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當前位置：深圳秋山工業設備有限公司>>外觀分析設備>>測量裝置>> PAM-UHR100日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
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日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 特點介紹
本裝置以透明試樣為對象，通過平行尼可光譜法測定數千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動計算雙折射N。
■特點
測定方式
平行尼科耳分光
樣品尺寸
□40mm、厚度3mm以下
測定項目
相位差、取向角、雙折射
日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 規格參數
規格內容測定對象透明拉伸膜（PC，PET等）測定項目相位差、取向角、雙折射（相位差范圍約800～20000nm）試樣尺寸□40mm厚度3mm以下系統結構測定裝置主體、筆記本電腦（OS:Windows7/Vista/XP）溫濕度條件10～35°C、20～80%RH（但不結露）電源AC100V±10%、50/60Hz
偏光軸方位、配向角、位相差
測定対象
光學薄膜、偏振板
測定原理
旋轉檢光子法、平行二卷旋轉法、正交二卷旋轉方法
測定時間
約4秒（偏振軸測量）
測定波長
590nm（可選=450nm、630nm等）
樣品尺寸
30mm~250mm，t=20mm以下
系統配置
測定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）
主體尺寸
W380XH390 XD610 mm
本體重量
27kg
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