艾博納原子力顯微鏡（AFM）維持納米研究的 前沿技術，具有原子級超高分辨率，高水平的性能 。可在大氣和液體環境中對樣品進行探測或進行納 米操控。其測試功能強大、操作簡單，除配備接觸模式、非接觸模式、輕敲模式，也可選配用戶需要 的模式。我們的系統經過專業的設計，可對測試結 果進行各類數據分析，更加方便、快捷完成測試需求。

艾博納原子力顯微鏡（AFM）配備了高精度的電 動X、Y、Z軸平移臺，具備滾珠絲杠和交叉滾柱導 軌，確保了精確的樣品操作和定位。此外，該設備 具有研究級的頂視視頻光學顯微鏡，提供清晰的樣 品觀察。它還包括多個掃描儀，以優化掃描條件， 支持系統的定制和擴展。設備的模塊化設計允許用 戶根據需求添加額外的功能和模式，如圖像記錄器 、光刻和液體掃描。簡易的探頭更換機制和激光桿 的廣泛調節范圍提供了額外的操作便利。