到貨型號：
JIMA分辨測試卡RC-05B！
4月深圳倉庫到貨，歡迎咨詢！
客戶4月初詢價該產品，經過議價對比價格后，4月中已下單，并簽訂正式合同訂貨。
4月初到貨深圳倉庫后，倉庫負責人王工對產品驗收合格后辦理入庫，已經發往天津的客戶了。
JIMA 分辨測試卡 RC-05B 具有以下性能特點1：
高分辨率支持：采用新半導體光刻技術制作，能支持 3 微米至 50 微米（3µm 至 50µm）的分辨率，對應 6 微米和 100 微米（6µm 和 100µm）之間的焦斑尺寸，可滿足微焦點或納米焦點 X 射線檢測系統對高精度分辨率校準和監控的需求。
多種狹縫尺寸：狹縫尺寸包括 3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米，共 16 種規格，可全面覆蓋不同分辨率檢測場景，精確測量系統在各種尺度下的分辨率表現。
特定吸收材料與布局：吸收材料為厚度大于 1.0µm 的金（Au），Slit 的數量為 3 行和 2 個空格，這種設計有助于在 X 射線檢測中形成清晰的線條圖案，便于觀察和分析系統對不同寬度線條的分辨能力，從而準確評估系統性能。
小巧的外形尺寸：通常芯片尺寸較小，例如可能采用 2x2mm、8x8mm 硅基等不同布局方式，方便在各種 X 射線檢測設備中靈活放置和使用，適應不同的檢測空間和光路設置。
該測試卡主要用于校準和監控 X 射線檢測系統的分辨率，通過將其放置在 X 射線管前，利用操縱器移動測試圖，觀察不同狹縫尺寸的線條圖案，只要線條清晰可見，就可繼續測試，進而近似計算焦點大小（小分辨率乘以 2），以確保 X 射線系統在微米和納米焦點下能獲得高質量的圖像結果
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