點焊探頭是一種單晶延遲塊探頭，與專門用于檢測點焊完整性的硬尖延遲塊或密封式水柱相兼容。
優勢
• 多種晶片尺寸，用于檢測不同尺寸的點焊熔核。
• 與延遲塊或水柱相兼容。
• 刻有英寸和毫米兩種單位。
應用
• 汽車、電器和其它關鍵性工業產品的點焊。
雙晶探頭：
雙晶探頭包含兩個縱波晶片（一個用作發送器，另一個用作接收器），兩個晶片裝于同一個外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個晶片都稍微向另一個晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴重腐蝕的工件時一般都能提供更穩定的讀數，而且還可用于高溫環境。
雙晶探頭在同一個外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個晶片。一個晶片發射縱波，另一個晶片作為接收器接收聲波。要了解有關用于MG2和37系列測厚儀的探頭更詳細的情況請咨詢我們。
優勢
• 改進了近表面的分辨率。
• 避免了高溫應用所需的多延遲塊。
• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。
• 減少了粗晶粒或易散射材料中的直接反向散射噪音。
• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結合在一起。
• 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。
應用
• 剩余壁厚測量。
• 腐蝕/侵蝕監控。
• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測。
• 探測鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。
• 探測螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。
• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數為最多10秒鐘接觸，然后進行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍頂部雙晶）。
角度聲束探頭：
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波
發射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達的區域進行檢測。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測，因為如果使用標準接觸式探頭，焊冠會擋住聲波，使聲波無法到達希望檢測的焊縫區域，而且一般的缺陷對準操作會使角度聲束產生更強的反射信號。
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測工件內部發射折射橫波或縱波。
優勢
• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時，還表現出防磨特性。
• 高溫楔塊可對熱材料進行在役檢測。
• 用戶可根據需要定制楔塊，以得到非標準的折射角度。
• 具有可更換型和整合型兩種結構設計。
• 具有外形吻合性能。
• 可提供在鋁制材料中獲得標準折射角度的楔塊及整合組件設計。
應用
• 缺陷探測與定量。
• 要了解衍射時差探頭，請參閱第35頁。
• 檢測管道、管件、鍛件、鑄件，機加工部件和結構部件上的焊縫缺陷或裂縫。
袖珍旋入式探頭
• 旋入式設計，303不銹鋼外殼。
• 不同頻率的探頭顏色不同。
• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。
標準的角度聲束探頭和楔塊提供較大的掃查步進距離，從而縮短了檢測較大的表面所用的掃查時間。
袖珍角度聲束探頭和楔塊主要用于檢測焊縫的完整性。由于這種探頭和楔塊組合件的設計特點，這種組合件很容易進行前后掃查，并得到較短的接近距離。
選擇延遲塊或者水柱。探頭、延遲塊、延遲塊固定環、水柱和薄膜需要分別訂購。
延遲塊探頭：
延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結構設計是在探頭晶片前插有塑料或環氧材料制成的一個薄片。延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測量結果。延遲塊可根據工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應用中。
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。
優勢
• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發現細小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區域有限的工件進行檢測。可更換延遲塊探頭
• 每個探頭的配置都帶有一個標準延遲塊和一個固定環。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
探頭 頻率 直徑 直徑 延遲塊 延遲塊 水柱
工件編號（兆赫）（毫米）（英寸）選擇適當的直徑 固定環 訂購薄膜（見下表）
V2325 15 2.5 0.098 SWDL-25 (2.5 mm) SWDL-27 (2.7 mm) SWRR-1 DLCW-1003
V2330 15 3 0.118 SWDL-30 (3.0 mm) SWDL-32 (3.2 mm) SWRR-1 DLCW-1003
V2335 15 3.5 0.138 SWDL-35 (3.5 mm) SWDL-37 (3.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2340 15 4 0.157 SWDL-40 (4.0 mm) SWDL-42 (4.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2345 15 4.5 0.177 SWDL-45 (4.5 mm) SWDL-47 (4.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2350 15 5 0.197 SWDL-50 (5.0 mm) SWDL-52 (5.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2355 15 5.5 0.217 SWDL-55 (5.5 mm) SWDL-57 (5.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2360 15 6 0.236 SWDL-60 (6.0 mm) SWDL-62 (6.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2365 15 6.5 0.256 SWDL-65 (6.5 mm) SWDL-67 (6.7 mm) SWRR-3 DLCW-3003
V2380 15 8 0.315 SWDL-80 (8.0 mm) SWDL-82 (8.2 mm) SWRR-3 DLCW-3003
V2425 20 2.5 0.098 SWDL-25 (2.5 mm) SWDL-27 (2.7 mm) SWRR-1 DLCW-1003
V2430 20 3 0.118 SWDL-30 (3.0 mm) SWDL-32 (3.2 mm) SWRR-1 DLCW-1003
V2435 20 3.5 0.138 SWDL-35 (3.5 mm) SWDL-37 (3.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2440 20 4 0.157 SWDL-40 (4.0 mm) SWDL-42 (4.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2445 20 4.5 0.177 SWDL-45 (4.5 mm) SWDL-47 (4.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2450 20 5 0.197 SWDL-50 (5.0 mm) SWDL-52 (5.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2455 20 5.5 0.217 SWDL-55 (5.5 mm) SWDL-57 (5.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2460 20 6 0.236 SWDL-60 (6.0 mm) SWDL-62 (6.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003
V2465 20 6.5 0.256 SWDL-65 (6.5 mm) SWDL-67 (6.7 mm) SWRR-3 DLCW-3003
上面的部件為探頭、水柱、薄膜。
下面的部件為探頭、延遲塊、延遲塊固定環。
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