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日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測儀
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：75更新時間：2025-02-21 15:03:03
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- 馬經(jīng)理/冉經(jīng)理
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- 18284451551冉經(jīng)理
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- 地址：
- 中國四川省成都市郫都區(qū)創(chuàng)智東二路58號綠地銀座A座1118
- 個性化：
- www.fujita-cd.cn
- 網(wǎng)址：
- www.fujita-cn.com
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無復雜設定，操作簡單，短時...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測儀-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特 點
● 采用分光干涉法
● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（第4834847號）
● 使用光學光纖，可靈活構筑測量系統(tǒng)
● 可嵌入至各種制造設備。
● 實時測量膜厚
● 可對應遠程操作、多點測量
● 采用壽命長、安全性高的白色LED光源
測量項目
多層膜厚解析
用 途
光學薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）
FPD相關（光刻膠、SOI、SiO2等）
設備構成
單點型
半導體晶圓的面內(nèi)分布測量
玻璃基板的面內(nèi)分布測量
多點型
實時測量
流向品質(zhì)管理
真空室適用
導線型
實時測量
寬度方向品質(zhì)管理
測量案例
超硬涂層的膜厚解析
設備構成
單點型
半導體晶圓的面內(nèi)分布測量
玻璃基板的面內(nèi)分布測量
多點型
實時測量
流向品質(zhì)管理
真空室適用
導線型
實時測量
寬度方向品質(zhì)管理
測量案例
超硬涂層的膜厚解析
核心特點：
微區(qū)測量能力：最小光斑直徑3μm，搭配自動XY平臺（200×200mm），實現(xiàn)晶圓、FPD（如OLED、ITO膜）等微小區(qū)域的精準厚度分布映射。
跨行業(yè)適用性：專為半導體（SiO?/SiN膜）、顯示面板（彩色光阻）、DLC涂層等行業(yè)設計，支持粗糙表面、傾斜結(jié)構及復雜光學異向性樣品的分析。
安全與擴展性：區(qū)域傳感器觸發(fā)防誤觸機制，獨立測量頭支持定制化嵌入，滿足在線檢測（inline）與實驗室研發(fā)需求。
日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測儀-成都藤田科技提供
