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為世界各地的“制造業”做出貢獻。--日本CCS光源株式會社

2025-4-18  閱讀(86)

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通過“照明解決方案", 為世界各地的“制造業"做出貢獻。

CCS 以自成立以來積攢下的專有技能和技術經驗為基礎, 通過對光的波長、照射距離、照射角度等各種元素進行搭配結合,

為您提供*佳光環境的“照明解決方案"

日本CCS晰寫速光學(希希愛視)的主要產品有:

1、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)環形光源:

LDR2系列

從形成角度的發光部照射直射光。

用途:字符識別、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 二維代碼讀取等

LDR2-LA系列

從形成角度的發光部低角度照射直射光。

用途: 金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測、 異物混入檢測等

LDR-LA1系列

從水平方向的發光部低角度照射直射光。

用途: 金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測、 異物混入檢測等

SQR系列

從上方照射直射光。

用途: 字符識別、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 二維代碼讀取等

SQR-TP系列

從形成角度的發光部低角度照射直射光。

用途:金屬零件的外觀檢測、損傷與污垢檢測等

HLDR-IP系列

照射通過鏡頭集光的擴散光。

用途: 金屬零件的缺陷檢測、橡膠零件的外觀檢測、 粘合劑涂抹狀態檢測(UV)等

HPR2系列

采用**的照射結構實現高自由度的均勻范圍。

用途: 通過高角度均勻照射、 低角度特征提取進行的檢測等

LFR系列

從平坦的發光面照射擴散光。

用途: 基板上的封裝零件檢測、 金屬零件的表面檢測等

LKR系列

從形成角度的發光部照射擴散光。

用途: 通過焊錫檢測、顏色識別進行不同品種混入檢測、 光澤表面的污垢檢測等

FPR系列

從形成角度的發光面照射低角度擴散光。

用途: 金屬零件的邊緣檢測、電子零件的字符識別等

2、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)方形光源

FPQ3系列New

從4個方向以低角度照射擴散光。傳統產品2倍的高輸出。

用途:電子零件的字符識別、食品容器的外觀檢測、基板的外觀與圖案檢測等

FPQ2 系列

從4個方向以低角度照射擴散光。

用途:電子零件的外觀檢測、字符識別、針或引腳的彎曲、污垢檢測等

3、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)條形光源

LDL2 系列

從線性封裝LED的發光部照射直射光。

用途:帶發紋金屬的損傷檢測、 異物與有無檢測等

LDLB 系列 <新增防水型>

控制器內置的條形光源,適用于大型被測物體。

用途: 機器人拾取用光源、不同品種混入檢測、 大型被測物體的外觀檢測等

HLDL2 系列

照射大型被測物體的*佳直射光。

用途: 機器人拾取用光源、大型被測物體的外觀檢測、 不同品種混入檢測等

4、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)平面光源

TH2 系列 (高亮度型)   New

從平坦的發光面照射擴散光。

用途: 液面檢測、針孔檢測、外觀檢測、 金屬零件的毛刺檢測等

TH2 系列 (高指向性型)   New

照射指向性較高的擴散光。

用途: 尺寸測量、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 缺陷檢測等

TH2 系列 (大型)   New

*適用于大型被測物體的平面光源。

用途: 大型被測物體的液面檢測、 外觀檢測、異物檢測等

TH2 系列 (寬型)   New

適用于長方形被測物體及線陣相機的平面光源。

用途: 長方形被測物體的外觀檢測、片狀被測物體的缺陷檢測等

TH2 系列 (開孔型)   New

從與相機同軸的方向進行照射的平面光源。

用途: 外觀檢測、異物、污垢檢測、 刻印字符讀取、金屬零件的密封材料 (FIPG)涂抹狀態檢測等

TH 系列

從平坦的發光面照射擴散光。

用途: 液面檢測、針孔檢測、外觀檢測、 金屬零件的毛刺檢測等

LFL 系列

從平坦的發光面照射擴散光。

用途: 液面檢測、外觀檢測、 包裝品的破裂、污垢檢測等

5、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)圓頂光源

HPD2 系列

利用圓頂形狀的反射板均勻地照射擴散光。

用途: 光澤表面、曲面、凹凸面的外觀、印字、顏色識別檢測、刻印、損傷與污垢檢測等

LDM2 系列

從圓錐形發光面照射擴散光。

用途: 光澤表面、曲面、凹凸面的外觀、印字、顏色識別檢測、焊錫檢測等

LAV 系列

利用擴散光光源與同軸光源的復合結構均勻地照射擴散光。

用途:鍍金**檢測、密封內的對象物檢測、 光澤面的異物附著檢測等

PDM 系列

利用擴散光光源、同軸光源與低角度光源的復合結構。

用途:鍍金**檢測、密封內的對象物檢測、 光澤面的異物附著檢測等

6、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)平面無影光源LFX3 系列

以平面外殼實現了圓頂光源的效果。

7、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)同軸光源

LFV3 系列

從與相機同軸的方向均勻地照射擴散光。

用途: 光澤表面、鏡面的缺陷、損傷、 刻印、凹陷檢測等

MSU 系列

采用**的光源技術照射平行度高的擴散光。

用途: 光澤表面的細微損傷檢測等

MFU 系列

采用**的光源技術照射平行度高的擴散光。

用途: 精密的外觀檢測、尺寸測量等

8、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)紫外光源?紅外光源

UV2 系列

使用高輸出UV-LED的UV光源。

用途: 通過激發熒光進行密封材料的有無檢測等

UV系列

備有使用**UV-LED的各種光源產品陣容。

用途:隱形代碼的讀取等

LNSP-UV-FN 系列

使用高輸出UV-LED的UV線光源。  

用途: 通過激發熒光進行密封材料的有無檢測等

IR2 系列

備有使用IR-LED的各種光源產品陣容。

用途: 透過液體檢測內部異物等


9、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)點光源

HLV3 系列   New!

-兼具高輸出、高均勻性

-降低亮度個體差異

-與傳統產品相比 實現*大2倍的高輸出化

HLV2 系列

采用**的光學設計照射高輸出的點光。

用途: 尺寸測量用光源、點照射用光源等

LV 系列

采用**的集光技術照射點光。

用途: 尺寸測量用光源、點照射用光源等


10、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)LED光源機


PFB3 系列  New!

-可替代100W鹵素光源的亮度

-確保調光的可控性

HFS 系列

采用**集光技術的LED光纖光源系統(直線形)。

用途:對準標記成像等

HFR 系列

采用**集光技術的LED光纖光源系統(環形)。

用途:對準標記成像等

HLV2-22-NR-3W 系列

采用**的光學設計照射高輸出的點光。

用途: 微型光纖照射頭專用光源

HLV2-3M-RGB-3W

采用**的光學設計及集光技術照射高輸出的點光。

用途: 微型光纖照射頭專用光源

PFBR 系列

實現了超過250W金鹵光源的光輸出。

用途:連接各種光纖導管使用

PFB2 系列

實現了超過100W鹵素光源的光輸出。

用途: 連接各種光纖導管使用

11、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)線光源

CU-LNSP2/LNSP 系列

作為安裝至LNSP系列的同軸光源使用。

LNSP-FN 系列

通過**的集光技術實現抑制了光擴散的照射。強制冷卻(風扇冷卻)型的高輸出線光源。

LN 系列

照射集光后的線光。

適用于外觀檢測、缺陷檢測。

LN-HK 系列

照射集光后的線光(高輸出型)。

適用于外觀檢測、缺陷檢測

LNSD 系列

用途廣泛的高通用性線光源。

適用于魚眼、損傷、凹痕、異物與污垢檢測。

LND2 系列

實現與熒光燈同等亮度且降低了成本的線陣光源。可用于所有線陣傳感器檢測。

適用于損傷與凹痕檢測、異物檢測、尺寸測量。

HLND 系列

從線性封裝LED的發光面照射擴散光。

適用于異物檢測、污垢檢測。

LT 系列

運用本公司**的光學系統,同時實現高均勻性與高亮度。 可通過掃描速率進行高精度檢測,

適用于廣泛的用途。 適用于白點檢測、劃痕檢測。

LNV 系列

從與相機同軸的方向照射擴散光。

適用于缺陷檢測、污垢檢測。

LNDG 系列

采用**的光學設計實現斜光照射。

適用于縱向褶皺、縱向條痕、折痕、凹凸、生產線傳送方向的損傷檢測。

LNIS 系列

采用**的光學設計實現兩側斜光照射。

適用于條痕、劃痕檢測、生產線傳送方向的損傷檢測。

LNIS-FN 系列

采用**的光學設計實現兩側斜光照射。采用強制冷卻(風扇冷卻)的高輸出型。

12、日本CCS晰寫速光學(希希愛視)超亮頻閃光源

PF 系列(LDR-PF-LA、LFV-PF)   New

環形低角度型 LDR-PF-LA、同軸型 LFV-PF。實現檢測的“高速化"、“提高精度"!

PF 系列(HPD-PF、HPR-PF)

產品種類得到擴充,用途擴大!

PF 系列

利用頻閃發光,進一步加快高速生產線。為提高生產力做出了貢獻。


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