Zetasizer Ultra 納米粒度電位儀是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，在結(jié)合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，增加了多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)(MADLS®)，是 Zetasizer Advance 系列中最智能和靈活的儀器。

這一旗艦型儀器充分利用了 ZS Xplorer 軟件的易用性、高分析速度和數(shù)據(jù)可靠性等優(yōu)勢，運(yùn)用多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù) (MADLS®) ，提供與角度無關(guān)的高分辨率粒度測量，并且能夠測量顆粒濃度，幫助您更深入地了解樣品。

僅限 Zetasizer Ultra 紅標(biāo)版本 (Red Label)

Zetasizer Ultra 納米粒度電位儀的特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

Zetasizer Ultra 融合了功能強(qiáng)大的 DLS 與 ELS 系統(tǒng)，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角動(dòng)態(tài)光散射 (MADLS) 技術(shù)來測量顆粒與分子大小。 NIBS 的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍，而 MADLS 則能讓您在這些關(guān)鍵測量當(dāng)中更精細(xì)地了解樣品粒度分布。

Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 擴(kuò)展功能可直接分析顆粒濃度。 顆粒濃度的測量適合于廣泛的材料，無需或只需很少稀釋，并且使用快捷，這一切使其成為一種理想的篩選技術(shù)。  這是 Zetasizer Ultra 的一項(xiàng)功能，甚至可以運(yùn)用于以前非常難測量的病毒和類病毒顆粒 (VLP) 等樣品。

Zetasizer Ultra 的關(guān)鍵特性和優(yōu)點(diǎn)包括：

用于高分辨率粒度測量且與角度無關(guān)的多角動(dòng)態(tài)光散射法 (MADLS) 可以更深入地展現(xiàn)您的樣品粒度分布

動(dòng)態(tài)光散射 (DLS)  用于測量從0.3 nm 到 15 µm 的顆粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可拋棄粒度樣品池和擴(kuò)展粒度分析可以測試粒度大于10 µm ；取決于樣品和樣品制備）

電泳光散射 (ELS)  用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以顯示樣品穩(wěn)定性和/或團(tuán)聚傾向性

非侵入背散射 (NIBS) 技術(shù)顯著擴(kuò)大了動(dòng)態(tài)范圍，即使是處理非常濃縮的樣品，也能實(shí)現(xiàn)高靈敏度

簡單的每峰值濃度/滴度測量（僅限紅標(biāo)Red Label版本）

可拋棄型毛細(xì)管粒度測量樣品池提供了無損、低容量（ 3 L）分析，并且粒度上限范圍可達(dá)到 15 μm

具有恒流模式的M3-PALS可以在高導(dǎo)電介質(zhì)中測量Zeta電位和電泳遷移率

以樣品為中心的ZS Xplorer軟件可以實(shí)現(xiàn)靈活的指導(dǎo)式使用，并可輕松構(gòu)建復(fù)雜的模型

“自適應(yīng)相關(guān)"算法能生成可靠且可重復(fù)的數(shù)據(jù)，同時(shí)計(jì)算速度超過以往的兩倍，可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測量，實(shí)現(xiàn)更具代表性的樣品視圖

通過深度學(xué)習(xí)實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)質(zhì)量系統(tǒng)可以評估粒度數(shù)據(jù)質(zhì)量問題，并針對如何改進(jìn)結(jié)果提供明確的建議

使用靜態(tài)光散射（90°）測量分子量

軟件符合 21 CFR Part 11 法規(guī)

濾光片轉(zhuǎn)盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實(shí)現(xiàn)分析靈活性

可選的 MPT-3 自動(dòng)滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響

一系列可拋棄和可重復(fù)使用的樣品池可優(yōu)化不同樣品體積和濃度的測量，其中包括新的低容量可拋棄粒度測量池套件，由于它可以抑制對流，所以既能進(jìn)行樣品量小到 3 L 的粒度測量，也擴(kuò)展了DLS 測量的粒度上限范圍。

產(chǎn)品參數(shù)