Hatachi日立XE-NSOM近場掃描光學(xué)顯微鏡

XE-NSOM –用于各種光學(xué)應(yīng)用的完備的AFM 系統(tǒng)

XE-NSOM是Park Systems專為高級光學(xué)研究而精心設(shè)計的一款專業(yè)產(chǎn)品，該儀器具備近場掃描光學(xué)顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光譜儀 (Raman Spectrometry)和共聚焦顯微鏡（Confocal Microscopy）功能。XE-NSOM 為此類光學(xué)實(shí)驗(yàn)提供了一整套性能可靠功能齊全的研究檢測系統(tǒng)。

技術(shù)參數(shù)(機(jī)械部分)：

1. XY掃描器：100?m×100?m（閉環(huán)）
2. Z掃描器：12?m (可選配25?m)
3. 水平度：100?m線掃描垂直偏差不超過2nm
4. 樣品臺移動范圍：4mm（X/Y），27.5mm (Z)
5. 成像方法： AFM, NSOM
6. 光學(xué)觀察：垂直光路設(shè)計，可直接觀察微懸臂和樣品

技術(shù)參數(shù)(NSOM部分)：

1. NSOM激光光譜：400~900nm
2. 可根據(jù)透射或反射NSOM測量要求選用有孔或無孔微探針
3. 光子檢測：APD 或PMT

技術(shù)參數(shù)(電子部分)

1. 微處理器：600MHz，4800MIPS DSP
2. 模數(shù)/數(shù)模：16位，500kHz采樣頻率
3. 圖像采集：同步自動采集16幅圖像，分辨率高達(dá)4096×4096像素
4. 通訊方式：采用基于TCP/IP協(xié)議的通訊方式與計算機(jī)聯(lián)接
5. 符合CE認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)

主要特點(diǎn)：

專業(yè)NSOM和Raman-AFM測量系統(tǒng)
一、 原子力顯微鏡和光學(xué)測量的*結(jié)合
二、 科學(xué)的光學(xué)設(shè)計提供了更寬的觀測角度
三、 多功能的平臺可滿足反射和透射測量要求
四、 適宜光子檢測的便捷式光軸調(diào)節(jié)系統(tǒng)
五、 便于產(chǎn)品升級的模塊化設(shè)計思想