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納米Fe3O4的ζ電位和分散穩(wěn)定性
閱讀：712 發(fā)布時(shí)間：2013-11-16| 提 供 商 | 美國(guó)布魯克海文儀器公司 | 資料大小 | 260.6KB |
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作者：程海斌 劉桂珍 李立春 官建國(guó) 袁潤(rùn)章
（武漢理工大學(xué)）
摘要：研究了SDBS 存在下合成Fe3O4納米粒子的pH 值和SDBS 濃度與ζ電位、二次粒徑、分散穩(wěn)定性的關(guān)系。結(jié)果表明：Fe3O4復(fù)合粒子的分散穩(wěn)定性隨表面活性劑用量增大而提高，隨pH 增大而下降。粒子的ζ電位在pH =2～12 范圍內(nèi)均為負(fù)值，與粒徑、穩(wěn)定性不成正比例關(guān)系。粒子聚沉的主導(dǎo)因素不是ζ電位的高低，而可能是雙電層的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
關(guān)鍵詞：納米Fe3O4;ζ電位;粒徑;穩(wěn)定性;表面活性劑