GB/T 2423 標準的組成部分（一）
　　除本部分外，GB/T 2423標準的其他組成部分如下：
　　GB/T 2423.1-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗A：低溫（IEC 60068-2-1：2007，IDT）
　　GB/T 2423.3-2006  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Cab：恒定濕熱試驗（IEC 60068-2-78：2001，IDT）
　　GB/T 2423.4-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環）（IEC 60068-2-30：2005，IDT）
　　GB/T 2423.5-1995  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Ea和導則：沖擊（idt IEC 60068-2-27:1987）
　　GB/T 2423.6-1995  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Eb和導則：碰撞（idt IEC 60068-2-29:1987）　　
　　GB/T 2423.7-1995  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Ec和導則：傾跌與翻倒（主要用于設備型樣品）（idt IEC 60068-2-31:1982）
　　GB/T 2423.8-1995  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Ed：自由跌落（idt IEC 60068-2-32:1990）　　
　　GB/T 2423.10-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Fc：振動（正弦）（IEC 60068-2-6:1995，IDT）
　　GB/T 2423.15-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Ga和導則：穩態加速度（IEC 60068-2-7:1986，IDT）
　　GB/T 2423.16-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗J和導則：長霉（IEC 60068-2-10:2005，IDT）
　　GB/T 2423.17-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Ka：鹽霧（IEC 60068-2-11:1981，IDT）
　　GB/T 2423.18-2000  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）（idt IEC 60068-2-52:1996）
　　GB/T 2423.21-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗M：低氣壓試驗方法（IEC 60068-2-13:1983，IDT）
　　GB/T 2423.22-2002  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗N：溫度變化（IEC 60068-2-14:1984，IDT）
　　GB/T 2423.23-1995  電工電子產品環境試驗  試驗Q：密封
　　GB/T 2423.24-1995  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射（idt IEC 60068-2-5:1975）
　　GB/T 2423.25-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗（IEC 60068-2-40:1976，IDT）
　　GB/T 2423.26-2008  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗（idt IEC 60068-2-41:1976，IDT）
　　GB/T 2423.27-2005  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗（IEC 60068-2-39:1976，IDT）　　
　　GB/T 2423.28-2005  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗T：錫焊（IEC 60068-2-20:1979，IDT）
　　GB/T 2423.30-1999  電工電子產品環境試驗  第2部分：試驗方法  試驗XA和導則：在清洗劑中浸漬（idt IEC 60068-2-45:1993）
　　GB/T 2423.31-1985  電工電子產品基本環境試驗規程  傾斜和搖擺試驗方法