薄膜厚度測量儀主要基于光學、機械或電學原理,來實現對各種材料表面薄膜厚度的精準測量。常見的測量方法包括:
1 光學測量
光學測量方法多采用干涉法或反射法。干涉法利用光的波動性質,當光波在薄膜的不同界面之間反射時,會形成干涉條紋,通過分析條紋的變化,可以算出薄膜的厚度。反射法則是基于光的反射特性,當光照射到具有不同折射率的薄膜時,會產生反射,通過測量反射光強度的變化,可以推斷出薄膜的厚度。
2 機械測量
機械測量方法通常使用探針直接接觸到薄膜表面,利用探針的位移量來計算薄膜的厚度。這種方法在很多應用中非常精準,但對薄膜的紋理和結構要求較高,部分情況下可能會損傷膜層。
3 電學測量
電學測量方法則通過電容或電阻的變化來獲取薄膜的厚度。這類技術主要用于極薄的膜層,如納米級別的薄膜,能夠提供足夠的靈敏度和準確性。
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。