一、工作原理
X射線熒光光譜儀基于X射線激發(fā)與熒光檢測的原理分析物質成分:
激發(fā)過程:
高能X射線(或伽瑪射線)照射樣品,使樣品原子內(nèi)層電子躍遷至高能級。
原子處于激發(fā)態(tài)后,外層電子填補空位時釋放能量,以熒光形式輻射。
熒光檢測:
探測器捕捉熒光信號,將其轉化為電信號。
通過測量熒光的能量和強度,確定元素種類及含量。
關鍵點:
不同元素的原子能級結構特別,熒光能量與元素一一對應(莫斯萊定律)。
熒光強度與元素濃度成正比,可實現(xiàn)定量分析。
二、核心結構
XRF光譜儀主要由以下部分組成:
激發(fā)系統(tǒng):
X射線管:產(chǎn)生初級X射線,通常采用鎢(W)或銠(Rh)陽極靶材。
高壓發(fā)生器:為X射線管提供高壓電源(如60kV、150mA)。
分光系統(tǒng):
波長色散型(WDXRF):使用分析晶體(如LiF、Ge)和測角儀,根據(jù)布拉格定律分光。
能量色散型(EDXRF):采用半導體探測器(如SDD),直接測量熒光能量。
探測系統(tǒng):
探測器:如SDD探測器(分辨率≤140eV)、流氣正比計數(shù)器(輕元素分析)、閃爍計數(shù)器(重元素分析)。
準直器:減少散射,提高光譜分辨率。
儀器控制與數(shù)據(jù)處理系統(tǒng):
軟件系統(tǒng)將探測器信號轉換為元素種類及含量。
支持定性、定量分析,可生成PDF或EXCEL報告。
三、核心參數(shù)
激發(fā)源參數(shù):
管電壓:6-50kV(影響X射線能量)。
管電流:≥500μA(影響X射線強度)。
功率:≥5W(如4kW銠靶X射線管)。
探測器參數(shù):
探測面積:≥30mm²(影響靈敏度)。
能量分辨率:≤140eV(如Mn-Ka線)。
計數(shù)率:≥850,000CPS(處理高強度信號)。
分析性能參數(shù):
元素范圍:從Na(11)到U(92),部分儀器可測至Be(4)。
檢出限:ppm級(如Pb 1ppm、As 1ppm)。
重復性:RSD<4%(相對標準偏差)。
測量時間:定性≤10秒,定量≤90秒。
環(huán)境與安全參數(shù):
輻射劑量:≤1.0μSv/h。
防水防塵:≥IP54。
工作溫度:-20°C~50°C。
四、技術分類與對比
波長色散型(WDXRF):
優(yōu)點:高分辨率、高精度,適合痕量元素分析。
缺點:需制樣、分析速度較慢。
能量色散型(EDXRF):
優(yōu)點:無需制樣、分析速度快、適合現(xiàn)場檢測。
缺點:分辨率較低,輕元素分析困難。
五、應用領域
地質與礦業(yè):礦石品位分析、土壤重金屬檢測。
冶金與材料:金屬合金成分分析、涂層厚度測量。
環(huán)保與安全:大氣顆粒物元素分析、有毒物質檢測。
考古與藝術:文物成分鑒定、油畫顏料分析。
六、使用注意事項
樣品要求:
固體、液體、粉末均可,但需均勻、無污染。
輕元素(如C、O)分析需特殊條件(如高真空環(huán)境)。
安全規(guī)范:
輻射防護:操作人員需佩戴防護裝備,避免直接暴露。
設備維護:定期校準、更換濾光片、清潔探測器。
數(shù)據(jù)解讀:
需結合標準樣品進行定量分析,避免基體效應干擾。
輕元素分析需注意熒光產(chǎn)額低的問題。
七、發(fā)展趨勢
便攜化:手持式XRF光譜儀(如PANalytical ZETIUM)廣泛用于現(xiàn)場檢測。
智能化:集成GPS、自動校正、遠程操控功能。
高精度化:采用多毛細管X射線聚焦技術,最小束斑達30μm。
通過解析XRF光譜儀的原理、結構與參數(shù),用戶可更好地選擇和應用該技術,實現(xiàn)高效、精準的元素分析。
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