FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。該儀器具備以下顯著優勢:
應用領域廣泛:適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時可檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
性能穩定可靠:擁有良好的長期穩定性,大幅減少儀器校準頻率;比例接收器實現高計數率,保障高精度測量。
測量方法先進:采用FISCHER基本參數法,無論是鍍層系統,還是固體和液體樣品,無需標準片即可進行測量和分析。
菲希爾代理FISCHERSCOPE X-RAY XDL230產品應用
測量大規模生產的電鍍部件
測量超薄鍍層,例如裝飾鉻
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
測量印刷線路板
分析電鍍溶液
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