Ferrit C60鐵素體檢測(cè)徠卡DM2700M相顯微鏡

Ferrit C60鐵素體檢測(cè)徠卡DM2700M相顯微鏡

Ferrit C60鐵素體檢測(cè)徠卡DM2700M相顯微鏡

圖像 Leica DM2700 M

Steel

Ferrit C60

Etched, undereutectoid, ferrit-perlite grain structure.
LED brightfield, 500x

Brass sample

Coated and annealed
LED brightfield-oblique contrast, 500x

Plastic composite material

LED brightfield-oblique contrast, 200x.

3D-like image due to oblique illumination.

Ferrit C35

Undereutectoid, ferrit-perlite grain structure
LED brightfield-oblique contrast, N Plan 100x

Ferrit C35

Undereutectoid, ferrit-perlite grain structure
LED brightfield contrast, N Plan 100x

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• Leica DM2700 M

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徠卡 DM2700 M

<:article class=feature sizset="false" sizcache042287276789483963="15 42 146">

帶有通用 LED 照明的正置材料分析顯微鏡

此材料分析顯微鏡由高質(zhì)量的徠卡光學(xué)元件以及的通用白光 LED 照明組成。對(duì)于相學(xué)、地球科學(xué)、法醫(yī)檢查以及材料質(zhì)控和研究來(lái)說(shuō)，它是進(jìn)行所有類(lèi)型常規(guī)檢查的理想檢查工具。徠卡 DM2700 M 向您展示了顯微鏡高境界的簡(jiǎn)單可靠性，還能夠幫助您改進(jìn)工作流程。