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資料簡介
METTLERTOLEDO 瑞士梅特勒電子天平 XPR205/AC
配有LabX
一次即準的結果
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協同作用，確保各項條件處于更佳狀態，獲得正確的稱量結果。
StaticDetect 靜電檢測
由于具備StaticDetect專業功能，XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。
始終可符合審計
將XPR分析天平連接至LabX軟件，為合規性和數據完整性提供全面支持。
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