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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學實驗設備>光學平臺> INSTEC XYZ模塊化變溫探針臺 HCP421V-MPS

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INSTEC XYZ模塊化變溫探針臺 HCP421V-MPS

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廣州領拓(L-Victor)成立于2009年, 是一家致力于材料測試儀器儀表領域,并提供失效分析和可靠性分析整體解決方案的企業。公司秉承著“以誠信為準,以質量為勝,以客戶*”的經營理念,為客戶提供材料失效分析測試方案、材料物性測試分析方案、材料微觀檢測分析方案、材料測試領域品牌產品設備、材料測試領域的經驗知識共享與交流,以及售前技術咨詢、售中合理化方案和售后標準化服務等一整套完善的服務支持,從而大限度的滿足用戶的需求。

領拓代理的產品有:美國Buehler,美國Wilson,德國Leica,Carbolite*Gero,德國Eltra,德國Retsch,德國Microtrac MRB,加拿大Creaform,德國Memmert,韓國EM科特,荷蘭TQC等品牌,擁有50年以上的生產及應用經驗。

領拓擁有設備齊全的實驗室和強大的應用團隊,應用工程師均為材料科班出身,兼具豐富的實踐經驗,必能為您提供應用解決方案。領拓展示出豐富的技術經驗和可靠的商業信用,一直在業界內享有很高的美譽。

領拓業務立足于華南,發展到西南,影響著全國。客戶包括事業單位、科研院校及眾多領域企業,客戶群體涉及的行業包括鋼鐵、汽車、五金、PCB、電子、塑膠、玻璃、晶體、航天航空、新能源、制藥、電廠等等。

領譽同行,拓展未來——領拓將持續以雄厚的實力,重信用、守合同、保質量的決心,向廣大客戶提供優質的服務和完備的解決方案。
(地址:中國廣州市番禺大道北555號天安科技園總部6號樓)







儀器和消耗品

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,電氣,綜合
特點與優勢

  • mimi型溫控探針臺,可集成到各種光學設備

  • 可編程控溫,涵蓋-190℃~400℃

  • 適用 10 mm ~26 mm 晶圓和器件

  • 可抽真空的腔體,亦可充入保護氣體使用

  • 獨立的四個探針,可從設備外部移動探針進行點針, 

  • 模塊化設計,可自由組合

*可升級為8個獨立探針
  • 可從溫控器或電腦軟件控制,可提供軟件SDK

  • SMA接頭轉BNC四探針,手動點針 

*可選三同軸接口
*可做定制或改動
溫控參數

溫度范圍
-190℃~400℃(負溫需配液氮制冷)
加熱塊材質
銀 
傳感器/溫控方式
100Ω鉑RTD / PID控制(含LVDC降噪電源)
30℃/min
最小溫控速度±0.01℃/min
溫度分辨率
0.01℃ RTD傳感器
溫度穩定性
±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
軟件功能
可設溫控速率,可設溫控程序,可記錄溫控曲線

電學參數

探針
默認為錸鎢材質的彎針探針 
探針座 
可從外部XYZ移動的探針臂
點針
從外部移動點針,每個探針座都可點到樣品區上任意位置
探針接口

默認為SMA接頭轉BNC

*可增設腔內接線柱(樣品接電引線)

樣品臺面電位
默認為電接地,可選電懸空(作背電極),可選三同軸接口


光學參數

適用光路
反射光路
INSTEC XYZ模塊化變溫探針臺 HCP421V-MPS
窗片
可拆卸與更替的窗片
最小物鏡工作距離
8/12 mm (可選) *截面圖中WD
上蓋窗片觀察
窗片范圍φ45mm,最大視角±50°  *截面圖中θ1
負溫下窗片除霜
吹氣除霜管路


結構參數

適用樣品
26 mm直徑 (標準)
樣品腔高
4/8 mm (可選)
探針座 

可從外部XYZ移動的探針臂

粗調模式+微調模式,XY粗調20mm
XY微調行程10mm,Z微調 3mm

調節精度10um
氣氛控制
真空腔,也可充入保護氣體 
外殼冷卻
可通循環水,以維持外殼溫度在常溫附近
臺體尺寸/重量
300 mm x 300 mm x 40 mm / 4kg


配置列表

基本配置 真空型臺式探針臺、mK2000B溫控器

可選配件 安裝支架、液氮制冷系統、外殼循環水冷系統、顯微鏡頭、防震桌、真空系統、測試源表、三同軸BNC、臺面電懸空、樣品接電引線

其他可選型號

TP102V-MPS
溫度范圍 -40℃ ~ 180℃,樣品區,40mm*40mm
HCP421V-MPS
溫度范圍 -190℃ ~ 400℃,樣品區 Φ26mm
HCP402V-MPS 
溫度范圍 -190℃ ~ 400℃,樣品區 50mm*50mm
HP1000G-MPS
溫度范圍 35℃ ~ 1000℃,樣品區 25mm*25mm,氣密腔室
定制型號
按客戶需求定制,最大適用300mm晶圓樣品







典型應用


  • 表征薄膜、二維材料、納米材料和分子/有機材料器件的電性能測試

  • 需要加熱塊表面電接地、接同軸BNC接口、三同軸BNC接口的

  • 需要鎢錸探針、鈹銅探針或其他材料的探針的

  • 需要從外部對臺體內探針進行XYZ移動的

  • 晶圓、半導體器件、集成電路、印刷電路板、光伏板、LCD/LED測試

  • 測量IV和CV特性、擊穿電壓、漏電流、電阻、介電常數和二極管效率




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